Nikon Eclipse MA100倒立式金相顯微鏡

載物台

即使放置較重的標本也能進行穩定的操作新開發的載物台具有超強的耐久性

尼康特別為MA100開發的新型MA-SR矩形載物台。三板式結構載物台使顯微鏡操作更為穩定，耐久性更高，可用於觀察較重的標本，無需將標本從研磨樹脂上取出，可直接置於載物台上觀察。

CFI60

CFI60 光學系統可確保銳利、清晰的觀察效果

尼康擁有專利的CFI60光學系統具有更高的數值孔徑和更長的工作距離。CFI60 LU光學系統可為使用者提供明亮的高對比度、高解析度影像。MA100 配備內建影像端口，十分適合數位影像拍攝。內建物鏡轉換轉盤最多可安裝 5 個物鏡鏡頭，方便使用者以各種倍率精準度觀察。

孔徑光闌

標配口徑光闌

洛射照明棄標配各種孔徑光闌，可靈活控製圖象隊度與景深

反光鏡

迅速確定物鏡倍率精度

ECLIPSE MA100 的載物台下方裝有反光鏡，方便使用者查看物鏡倍率。現在使用者不但可以輕鬆驗證所用物鏡鏡頭種類，而且無需查看債務台下方情況便可檢查標本位置。

起偏器 / 檢偏器

透過連動式起偏器 / 檢偏器機構進行簡易偏光觀察

使用者可透過MA-P / A Po1套件輕鬆進行反射偏光觀察。只需一步簡單的操作便可將起偏器和檢偏器置入光路中。起偏器能旋轉360°，方便使用者設定一個適合標本觀察的偏光方向。
可用於偏光觀察的標本包括：塑膠、薄膜、金屬、污染物、化學品、應變測試材料、玻璃和其他材料等。

可方便儲存 / 列印數據

已拍攝影像可儲存至USB記憶體或CF卡。除了可透過相容PictBridge的印表機直列印，使用者還可透過區域網路將資料儲存至伺服器。

狀態顯示

僅限MA200

當物鏡倍率精度改變時，可自動改變校準資料。因此使用者可方便地使用DS-L2的測量功能。照明亮度可透過調整電壓值的方式手動調整。 這一 點對於設定最佳觀察和拍攝參數非常重要。

使用者可透過 DS-U2和NIS-Elements進行從拍照到測量、分析及管理已拍攝影像等一系列操作。
*要了解更多信息，請查看 NIS-Elements產品目錄。

合成

相鄰的影像可以拼接在一起，創造出寬視野影像。因為照明效果更加均勻、一致，現在拍攝的影像更加生動。

狀態顯示

僅限MA200

當物鏡倍率精度改變時，可自動改變校準資料。因此使用者可方便地使用NIS-Elements的測量功能和其他可選軟體模組（晶粒度和鑄鐵球化率分析模組等）。
使用者可透過PC調整照明條件，這點對於設定最佳觀察、影像拍攝參數，尤其是大影像合成參數非常重要。

晶粒粒度分析模組

選配

本模組可依 JIS G0551 或 ASTM E112-96 / E1382-97 標準檢測並測量 1 個或 2 個相位標本的晶粒度。

可進行以下測量：

• G晶粒度
• 單位面積內的晶粒度及 / 或截距
• 晶粒數量
• 向異性指數
• 其他基本晶粒度統計

可依使用者需求提供以下客製化測量技術：

• 平面
• 線性
• 圓形
• Abrams

鑄鐵球化率分析模組

選配

本模組可依據 JIS G5502 或 ASTM A247-06 標準檢測、測量和分類石墨校正標本的石墨成分和鐵氧體成分。

主要應用：

• 石墨形狀及尺寸分類
• 結核狀態
• 石墨、鐵氧體、珠光體成份
• 其他基本鐵質材料分析統計
• 影像遮罩、尺寸限制及模組形狀分類