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Nikon Eclipse MA200倒立式金相顯微鏡

產品型號:MA200

詢價
倒立式金相顯微鏡
產品敘述

為新一代產品,是EPIPHOT TME300/200型金相顯微鏡的後續機種,支持明視野、暗視野、微分干涉、螢光、簡易偏光等觀察方式,具有結構緊湊、操作方便、照明均勻、成象清晰、節能省電、堅固耐用等特點。

操作方便

經常需要操作的部位,都集中在靠近觀察者的位置,即顯微鏡的前面。如:視場光闌、孔徑光闌、起偏器、檢偏器、檢板插拔以及明暗視野切換等。

 

 

結構緊湊、占地面積小、抗振、堅固耐用

箱形結構,堅固而耐用;與TME300相比,占地面積更小,可節約大約1/3的空間。

 

 

光學性能高、照明均勻、節能省電

採用Nikon特有的CFI60光學系統,不僅可以得到對比度高的、清晰的明視場圖像,還可以得到亮度為過去的3倍的暗視野圖像; 新開發了1倍與40倍物鏡; 目鏡視場數達25mm,與新開發的1倍物鏡相結合,直徑25mm的樣品也可以全部看一次性地全部看見; 照明均勻、成象清晰; 新開發的12V50W鹵素燈照明,其照明亮度完全可以媲美過去的12V100W鹵素燈照明,且電力可以節省一半。

 

顯微攝影及圖像處理

通過選配Nikon的DS系列數碼相機,可以進行顯微攝影; 所拍攝到的顯微圖片可以通過兩種途徑進行觀察及後續處理,分別為:

DS-L2

1.DS-L2型獨立顯示控制器(圖像資料可以保存到U盤)

DS-U2

2.DS-U2型電腦連接控制器,後者需要配合NIS Elements軟體一起使用

利用NIS Elements軟體中的功能,可以實現顯微圖像的無縫拼接;

利用NIS Elements軟體中的功能,可以進行材料分析,如晶粒度分析、球墨鑄鐵的石墨球化率分析等。

產品規格

尼康全新解決方案:一款理想的新型顯微鏡


正面操作
所有控制部件均位於儀器正面。 使用起來十分方便。


自動偵測目前物鏡位址並在主機前面板上顯示。
  • 緊湊的內建設計
    內建轉盤可防止照明濾光片上堆積灰塵,保持明亮、一致的照明效果。 此外,內建電源的設計也節省了空間。
  • 迅速查看狀態
    使用者可透過顯微鏡前面板輕鬆查看物鏡和標本的觀察位置。
  • 操作簡單
    檢偏器 / 起偏器互鎖機構
    可方便連接 / 鬆開檢偏器 / 起偏器附件。

    明場 / 暗場自動孔徑切換
    從明場觀察切換至暗場觀察時,視場光闌和孔徑光闌會自動打開。 回到明場觀察時,一器會自動恢復先前的視野和孔徑光闌。

    防眩光機構
    此機構可自動防止切換物鏡時產生的反射眩光。
  箱式結構
佔地面積比傳統型號更小:
僅為傳統型號的1/3!
因為採用獨特的箱式結構,MA200更加耐用。


  • 深度僅315mm的緊湊結構
    採用箱式結構的MA200顯微鏡的寬度和深度均比傳統型號大幅降低:其占地面積僅為傳統型號的1/3!
  • 極高的穩定性 / 耐久性
    減少高倍觀察時的影像抖動。 具有極高的強度。


高效能

基本性能大幅提升。 設計更符合人機理念,觀察影像更清晰。
  • 超寬視野
    將具有超寬視野的MA200與尼康新開發的1x物鏡鏡頭結合使用,可在同一視野中觀察直徑高達25mm的標本。
  • CFI60光學系統
    全球領先的NikonCFI60光學系統的亮度為傳統型號的三倍,可提供清晰的高對比度明場和暗場影像。 該產品線還包括新開發的1x和40x物鏡鏡頭。
  • 均勻的照明
    更均勻、一致的照明可增強影像的清晰度,特別適合數位成像
  • 節能
    50W鹵素燈光源與過去使用的100W光源亮度一致,但耗電量僅為後者的一半。

尼康顯微鏡獨有的最佳成像功能。


影像拍攝

DS-L2 相機控制裝置
獨立型

使用者無需使用目鏡,便可透過內建高解析度、大尺寸(8.4吋) XGA LCD 顯示屏,輕鬆觀察和討論標本情況。


可方便儲存 / 列印數據
已拍攝影像可儲存至 USB 記憶體或CF卡。 除了可透過相容 PictBridge 的印表機直列印,使用者還可透過區域網路將資料儲存至伺服器。

狀態顯示


當物鏡倍率精度改變時,可自動改變校準資料。 因此使用者可方便地使用 DS-L2的測量功能。 照明亮度可透過調整電壓值的方式手動調整。 這一 點對於設定最佳觀察和拍攝參數非常重要。

影像分析

DS-L2 相機控制裝置
PC 控制型
影像軟體 NIS-Elements
控制軟體

使用者可透過 DS-U2和NIS-Elements進行從拍照到測量、分析及管理已拍攝影像等一系列操作。
*要了解更多信息,請查看 NIS-Elements產品目錄。


合成
相鄰的影像可以拼接在一起,創造出寬視野影像。 因為照明效果更加均勻、一致,現在拍攝的影像更加生動。

狀態顯示


當物鏡倍率精度改變時,可自動改變校準資料。 因此使用者可方便地使用 NIS-Elements的測量功能和其他可選軟體模組(晶粒度和鑄鐵球化率分析模組等)。
使用者可透過 PC 調整照明條件,這點對於設定最佳觀察、影像拍攝參數,尤其是大影像合成參數非常重要。

(同時顯示中間可變倍率精度)

晶粒粒度分析模組


本模組可依 JIS G0551或 ASTM E112-96/E1382-97 標準檢測並測量1個或2個相位標本的晶粒度。

可進行以下測量:
  • G 晶粒度
  • 單位面積內的晶粒度及/或截距
  • 晶粒數量
  • 向異性指數
  • 其他基本晶粒度統計

可依使用者需求提供以下客製化測量技術:

  • 平面
  • 線性
  • 圓形
  • Abrams
鑄鐵球化率分析模組


本模組可依據 JIS G5502 或 ASTM A247-06標準檢測、測量和分類石墨校正標本的石墨成分和鐵氧體成分。

主要應用:
  • 石墨形狀及尺寸分類
  • 結核狀態
  • 石墨、鐵氧體、珠光體成份
  • 其他基本鐵質材料分析統計
  • 影像遮罩、尺寸限制及模組形狀分類