Nikon LV-150N 正立金相顯微鏡

  • 產品型號： LV-150N

產品規格

Nikon LV-150N 正立金相顯微鏡
型號 LV150N LV150NL LV150NA
顯微鏡類型 手動型 電動型
(物鏡轉換器)
兼容的觀察方法
  明場 暗場 DIC 螢光 偏光 雙光束干涉測量
LV150 / LV150NA 反射 O O O O O O
反射 (LED) O O O - Δ -
LV150NL 反射 O - O - O O
*請使用適合於關察方法的物鏡。
Δ：僅限簡易偏光觀察
兼容的載物台
  • LV‑S32 3×2 載物台 (行程：75 × 50 mm (附玻璃板)
    *可配備LV‑S32SPL ESD板
  • LV‑S6 6×6 載物台 (行程：150 × 150 mm)
    *可配備LV‑S6WH晶片夾 / LV‑S6PL ESD板
  • LV‑SRP P旋轉載物台
  • P‑GS2 G旋轉載物台2 (需配LV‑SAD轉接板)
與Digital Sight顯微鏡數位相機集成 DS-L3 (獨立型控制装置) 物鏡資訊檢測 (與智能物鏡轉換器LV-NU5I和LV-INAD 配合使用時) 物鏡資訊檢測與控制
DS-U3+NIS-Elements
(基於個人計算機控制的控制裝置+ 影像軟體)		 物鏡資訊檢測 (與智能物鏡轉換器LV-NU5I和LV-INAD 配合使用時) 物鏡資訊檢測與控制
Nikon LV-100ND 正立金相顯微鏡
型號 LV100ND LV100DA-U
顯微鏡類型 手動型 電動型
(物鏡轉換器 / 光強 / 孔徑光闌 / 觀察方法選擇器)
兼容的觀察方法
  明場 暗場 DIC 螢光 偏光 相對 雙光束干涉測量
LV100ND、
LV100DA-U		 反射 O O O O O O -
反射 (LED) O O O - Δ - -
透射 O O O - O - O
* 請使用適合於觀察方法的物鏡。
Δ：僅限簡易偏光觀察
兼容的載物台
  • LV-S32 3×2 載物台 (行程：75 × 50 mm，附玻璃板) *可搭配使用 LV-S32SGH 載玻片標本夾。
  • LV-S64 6×4 載物台 (行程：150 × 100 mm，附玻璃板)
  • LV-SRP P旋轉式載物台
  • P-GS2 G載物台 2 (配合載物台適配器 LV-SAD 使用)
  • NIU-CSRR2 Ni-U右邊手柄旋轉型陶瓷載物台 (行程：78 × 54 mm)
  • C-SR2S右手柄載物台 (行程：78 × 54 mm：配合載物台適配器 LV-SAD 使用)
與Digital Sight顯微鏡數碼相機集成 DS-L3 (獨立型控制装置) 物鏡資訊檢測 (與智慧物鏡轉換器 LV-NU5I 和 LV-INAD 搭配使用時) 物鏡、光強、孔徑光闌和觀察方法 (場 / 暗場 / 熒光) 信息檢測
DS-U3+NIS-Elements
(基於個人計算機控制的控制裝置 + 成像軟體)		 物鏡資訊檢測 (與智慧物鏡轉換器 LV-NU5I 和 LV-INAD 搭配使用時) 物鏡、光強、孔徑光闌和觀察方法 (明場 / 暗場 / 熒光) 信息檢測和控制
CFI₆₀-2光學系統
NIKON CFI₆₀-2 光學系統

CFI₆₀-2

更高的光學性能

尼康的CFI60光學系統，因其高數值孔徑和長工作距離的獨特設計理念而廣受好評，已經在長工作距離、色差校正和輕量化方面佔據了製高點。

T Plan、TU Plan Fluor和TU Plan Apo物鏡

常規平場物鏡

TU Plan Fluor 系列

EPI/BD 5x / 10x / 20x / 50x / 100x

只用一個鏡頭即可支援明場、暗場*、簡易偏光、微分乾涉和反射螢光觀察。 透過所有倍率下的長工作距離獲得卓越的色差校正性能，可適應任何應用。

TU Plan Fluor 系列物鏡
種類 倍率 數值孔徑 工作距離 (mm)
TU Plan Fluor EPI
(反射明場型)		 5× 0.15 23.5
10× 0.30 17.5
20× 0.45 4.5
50× 0.80 1.0
100× 0.90 1.0
TU Plan Fluor BD
(反射明暗場型)		 5× 0.15 18.0
10× 0.30 15.0
20× 0.45 4.5
50× 0.80 1.0
100× 0.90 1.0

低倍率物镜

T Plan EPI

EPI 1x / 2.5x

既可使用傳統起偏器 / 檢偏器進行清晰的觀察，也可在無需起偏器 / 檢偏器的情況下進行易於操作的觀察。

T Plan EPI 低倍率物鏡
種類 倍率 數值孔徑 工作距離 (mm)
T Plan EPI
(反射明場型)		 1× 0.0.3 3.8
2.5× 0.075 6.5

復消色差物鏡

TU Plan Apo 系列

EPI / BD 50x / 100x / 150x

透過使用菲涅爾透鏡，這些物鏡明顯獲得了更長的工作距離，同時保持復消色差鏡頭的卓越色差校正性能。

TU Plan Apo 系列復消色差物鏡
種類 倍率 數值孔徑 工作距離 (mm)
TU Plan Apo EPI
(反射明場型)		 50× 0.8 2.0
100× 0.9 2.0
150× 0.9 1.5
TU Plan Apo EPI
(反射明暗場型)		 50× 0.8 2.0
100× 0.9 2.0
150× 0.9 1.5

暗場照明

複眼透鏡

複眼透鏡

透過使用複眼透鏡，CFI₆₀-2 光學系統為整個視野提供明亮的暗場照明，而幾乎沒有不均勻現象 (即使針對低倍率鏡頭) 。

暗場照明系統

暗場照明系統

隨著數值孔徑和工作距離的提升，物鏡的外直徑也增加。 但是，因為入射光的寬度是固定的，導致傳統照明系統的光強度降低。
本照明系統使用環形透鏡或環形棱鏡 增加拍攝光線，並獲得明亮、無衰減的暗場照明。

TU Plan ELWD與T Plan SLWD物鏡 (長工作距離 / 超長工作距離物鏡)

長工作距離物鏡

TU Plan ELWD系列

EPI / BD｜20x / 50x / 100x

菲涅耳透鏡的採用，增大了這些物鏡的工作距離，同時提供比傳統物鏡更高的色差校正等級。工作距離的增大，提高了孔底 / 台階底觀察的深度範圍，以及可操作性。

TU Plan ELWD 系列長工作距離物鏡
種類 倍率 數值孔徑 工作距離 (mm)
TU Plan EPI ELWD
(反射明場型)		 20× 0.4 19.0
50× 0.6 11.0
100× 0.8 4.5
TU Plan BD ELWD
(反射明暗場型)		 20× 0.4 19.0
50× 0.6 11.0
100× 0.8 4.5

超長工作距離物鏡

T Plan EPI SLWD

EPI｜10x / 20x / 50x / 100x

T Plan SLWD系列在改善色差的同時將工作距離放在首要位置，擁有同級最佳的超長工作距離。 SLWD 10x (工作距離： 37 mm) 鏡頭支援處理更多樣式的樣品。

T Plan EPI SLWD 超長工作距離物鏡
種類 倍率 數值孔徑 工作距離 (mm)
T Plan EPI SLWD
(反射明場型)		 10× 0.2 37.0
20× 0.3 30.0
50× 0.4 22.0
100× 0.6 10.0

相位菲涅耳物鏡

加入菲涅耳透鏡可改善消色差性能並提升工作距離

改善消色差性能

普通透鏡利用光的折射成像，其折射強度因光波的顏色 (波長) 而異，在靠近透鏡的地方藍光首先成像，然後由近及遠依次是綠光和紅光；菲涅爾透鏡利用了光 的衍射，在靠近透鏡的地方紅光首先成像，然後由近及遠依次是綠光和藍光。把這樣兩種成像特性正好相反的透鏡組合在一起，可以達到消色差的目的。

改善消色差性能
實現長工作距離

實現長工作距離

加入菲涅耳透鏡，可以使物鏡用較短的鏡組距離實現消色差，以確保獲得比傳統物鏡更長的工作距離。

具有玻璃厚度校正功能的物鏡

CFI L Plan EPI CR

20x / 50x / 100x

這類物鏡特別適於觀察玻璃板下方的液晶。 玻片厚度校正環可以克服玻璃板板厚的影響，確保板下液晶觀察的清晰度。

CFI L Plan EPI CR 玻璃厚度校正物鏡
種類 倍率 數值孔徑 工作距離 (mm)
CFI L Plan EPI CR
(反射明場型)		 20× CR 0.45 10.90 - 10.00
50× CR; 0.70 3.90 - 3.00
100× CRA 0.85 1.20 - 0.85
100× CRB 0.85 1.30 - 0.95

反射明場/暗場觀察用物鏡

CFI LE Plan EPI/BD

EPI 5x / 10x / 20x / 50x / 100x

BD 5x / 10x / 20x / 50x

反射明場/暗場觀察用物鏡 CFI LE Plan EPI/BD
種類 倍率 數值孔徑 工作距離 (mm)
LE Plan EPI
(反射明場型)		 5× 0.1 31.0
10× 0.25 13.0
20× 0.4 3.6
50× 0.75 0.5
100× 0.9 0.31
LE Plan BD
(反射明暗場型)		 5× 0.1 18.0
10× 0.25 13.0
20× 0.4 3.6
50× 0.75 0.5

輕鬆操作

加裝數位相機

LV150N / LV100ND / LV150NA (物鏡資訊偵測與控制)

智慧物鏡轉換器 LV-NU5I & 轉接器

智慧物鏡轉換器LV-NU5I配備物鏡訊號轉接器LV-INAD可支援NIS-Elements軟體辨識目前在用物鏡。 發生物鏡轉換時，軟體中的倍率校正也會隨之自動進行。LV150NA不僅支援NIS-Elements軟體對物鏡的自動識別，還支援由軟體操控的物鏡轉換。

LV150NA 顯微鏡運作

LV100NDA (顯微鏡資訊檢測與控制)

LV100NDA支援透過NIS-Elements軟體對物鏡、光強度、孔徑光闌和觀察方法 (明場 / 暗場 / 螢光) 進行資訊偵測和控制，從而優化對於影像拍攝至關重要的條件。

LV100NDA 顯微鏡運作

資訊檢測和控制相容性列表

●：資訊檢測與控制均可
O：限資訊檢測		 LV150N/LV100ND
(使用 LV-NU5I 和 LV-INAD 時)		 LV150NA LV100NDA
(使用 LV-UEPI2A 照明器時)
DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements) DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements) DS-Ri2/DS-Fi3 (+NIS-Elements)
物鏡 O ● ●
反射照明
(開啟 / 關閉，光強調節)
※當使用LV-LH50PC時		 - - ●
透射照明
(開啟 / 關閉，光強調節)		 - - ●
孔徑光闌 - - ●
觀察方法
(明場 / 暗場 / 螢光)		 - - ●

※NIS-Elements的L套與F套不支援資訊檢查與控制，請使用NIS-Elements D套、Br套或Ar套。

相機系統 (顯微攝影用Digital Sight系列數位相機)

顯微鏡用數位相機

DS-Fi3

集以往型號的主要特點 (高分辨、高感度 / 低噪音、高速即時動態顯示) 於一 身，並進一步提升了這些性能。

DS-Fi3 顯微鏡用數位相機
顯微鏡用數位相機 DS-Ri2

DS-Ri2

利用尼康特有的演算法，實現顯微影像的真實再現。可快速拍攝高清彩色影像。

幀頻 30fps (1440×1024) 45fps (1636×1088)
最大可記錄像素 2880×2048 2880×2048

影像處理及控制軟體

NIS-Elements

平板電腦用

只需在平板電腦上安裝NIS-Elements L即可設定和控制數位相機DS-Fi3/DS-Ri2，實現顯微影像的即時動態顯示，完成顯微照片的拍攝。

NIS-Elements 影像處理及控制軟體
NIS-Elements L 各式工具

各種工具

NIS-Elements L套軟體可在拍攝到的影像上，執行簡易測量，輸出測量結 果實。另外，在影像上也可增加標註，這些都可以隨影像資料一起保存。

場景模式

針對各種顯微鏡光源、觀察方法和樣品類型，有十種模式可供選擇，以達到最佳的色彩再現和對比度。

  • 晶片 / IC
  • 金屬、陶瓷 / 塑料
  • 電路板
  • 平面顯示器
NIS-Elements L 場景模式
NIS-Elements L 影像拼接

影像拼接

將多個視野拍攝的影像拼接成一幅大影像。

EDF (景深擴充)

利用在不同對焦位置拍攝的影像，合成一幅全景影像。

* 關於Digital Sight功能的詳細信息，請參閱“顯微鏡用數位相機Digital Sight系列”手冊。

EDF (景深擴充)

觀察方法

可相容於一系列觀察方法：明場、暗場、偏光、微分乾涉、反射螢光和雙光束干涉觀察。

半導體明場觀察方法

半導體 (IC 晶片)

從物鏡到照明系統， LV‑N 系列均擁有良好的消雜光結構設計，可為您提供明亮的高對比度影像。  

半導體暗場觀察方法

半導體 (IC 晶片)

在物鏡暗場照明系統中使用尼康的獨特概念，支持明亮的暗場觀察，並就樣品上的微小台階和缺陷提供高靈敏度檢測。

液晶觀察方法

液晶

根據樣品觀察需要， DIC 稜鏡插片有標準型和高對比度型兩種選擇。 LV-N 適合於電子零件的觀察。 此外， 微分乾涉 ( DIC) 還可觀察到模具表面極細的加工紋理 (明場所看不到的細微高度差表現) 。

印刷電路板觀察方法

印刷電路板 (焊錫)

對有機 EL、有焊接的印刷電路板等樣品，螢光觀察可以發揮其獨特的效果。

礦相觀察方法

礦相

LV‑N系列可有效觀察具有雙折射特性的樣品，如方解石、液晶、含有內應力的塑膠與有機玻璃等。

雲母觀察方法

雲母

LV-N可配備 Michelson (TI) 和 Mirau (DI) 兩種物鏡，進行雙光束干涉觀察。 與測微目鏡結合使用， 還能對樣品上的微小台階進行非接觸式 (台階高) 檢測。

LCD 觀察方法

LCD (彩色濾光片)

LV-N 可觀察光學零件、平板顯示器、載玻片上的透明樣品。 在光路中加入 C-SP 型起偏器、檢偏器，還可實現簡易偏光觀察。

乳化液觀察方法

乳化液

利用光的繞射與乾涉，使無色透明的樣品獲得良好的明暗對比，從而變得清晰可見。

奈米粒子觀察方法

奈米粒子 (銀)

利用兩束偏振光的干涉，使無色透明的樣品呈現立體像。

相關產品

Related Products

相關解決方案

  • 金相顯微鏡是什麼? 工作原理介紹、常見用途為何?
    2025 06-11
    知識應用

    金相顯微鏡是什麼? 工作原理介紹、常見用途為何?

    在材料分析與品質檢測領域中，金相顯微鏡扮演著不可或缺的重要角色。作為台灣專業的金相設備供應商，中澤公司自1988年成立以來，致力於提供高品質的金相製樣與檢測解決方案，協助客戶在產品品質控管與研發分析中，取得精確可靠的金相檢測結果。

GO TOP